TeraView- EOTPR 5000 電光太赫茲脈衝反射系統
EOTPR 5000 全自動IC封裝檢驗系統
太赫茲科技與解決方案的先鋒與領導者TeraView，很榮幸的推出全自動IC封裝檢驗系統 EOTPR
5000。基於手動系統EOTPR 3000的成功推廣，已在IC封裝業界建立起快速的錯誤定位與手動檢驗儀器的先驅者，而全自動IC封裝檢驗系統EOPTR5000是利用TeraView 太赫茲技術的專利以檢測IC在量產環境中的導線微裂或導線品質好壞的邊界控制，而這是目前沒有其他技術可以偵測到的
現今的先進IC封裝容易產生各種缺陷與品質變異，例如在PoP或2.5/3D封裝的錫球缺陷，如焊接點的不良現象HIP(Head-in-pillow)。即使有良好的電子導通表現，這些微弱或接近錯誤的邊緣缺陷狀況是無法被邏輯測試或電子測試儀器檢測。然而, 基於EOTPR
5000優越的精准度和敏感度，使用者可以在IC經過加速壽命測試或高溫迴圈測試後偵測到導線的微小缺陷或接近錯誤的邊緣缺陷的阻抗變化，而在IC尺寸越來越小且先進封裝的複雜度越來越高的狀況下，這同樣適用於偵測並降低產品的製造變異以增進封裝相關的產率。EOTPR
5000的目標在於提高現今先進IC封裝的生產良率與可靠性。
在大量的生產環境下，EOTPR 5000是一個獨一無二的IC先進封裝品質檢測工具。沒有任何其他設備能像EOTPR
5000一樣的檢查並偵測功能。
產品特色
全自動探測，配方創建以及服務/維護模式。
與BGA兼容，範圍為400 µm至1 mm。
自動探頭校準，以確定信號和接地探頭尖端的位置。
完整的軟件套件，可進行數據收集和分析。
支持SECS / GEM工廠自動化接口。
全自動設備裝箱功能。
產品特色
