EOTPR 半導體/太赫茲測試 TeraView 就找筑波科技

Electro Optical Terahertz Pulse Reflectometry(EOTPR)

電光太赫茲脈衝反射儀

TeraView 獨創的電光太赫茲脈衝反射儀 (EOTPR) 提供 5 微米的定位精准度以解決在手機和電腦應用中複雜且先進積體電路晶片封裝的故障分析，其應用的封裝形式如堆疊式封裝層迭 (PoP)、覆晶(Flip-Chip)和 3D 封裝中的矽通孔 (TSV)。目前 EOTPR已經廣泛的被先進 IC 封裝故障分析業界所使用，並且這項技術已在品質保證與檢驗的製造環境中大量部署。
EOTPR3000

TeraPulse Lx模塊化系統可確保您的研究永不過時

TeraPulse Lx 是 TeraView 世界領先的太赫茲分析產品系列的最新產品。它的設計旨在滿足研究人員在成像或光譜學應用中的需求。

該系統的模塊化體系結構為用戶提供了靈活性和可擴展性，並且與TeraView廣泛而獨特的Terahertz Toolbox附件系列兼容。這些功能強大的光纖連接模塊首次可作為用戶可互換的即插即用設備使用。所有系統均包含TeraView專利的激光選通光導發射器和檢測器。全新的TeraPulse Lx樣品室在整個過程中均具有光纖耦合，以實現前所未有的穩定性和便攜性。
TeraPluse Lx

關於太赫茲(Terahertz)

太赫茲光線落在遠紅外線與微波之間，因此擁有特殊性質讓其可以穿透物體並且傳送一般來說被隱藏的影像與光譜資訊。太赫茲是非破壞性，安全且迅速的，讓它成為橫跨多項工業應用的理想偵測與成像方式。 TaraView已經在數個不同應用領域驗證了太赫茲技術的潛力，包括安檢掃描中隱藏武器的偵測、藥物製造品質監控，應用在汽車以及其他工業的高品質塗層，以及癌症的醫療影像。在半導體工業中，EOTPR是世界上第一個應用太赫茲技術以隔離出積體電路封裝中錯誤與製造品質變異的科技。EOTPR已經被許多半導體領導製造商接受，作為先進積體電路封裝中非破壞性隔離瑕疵的工具。

太赫茲應用

塗料檢驗
半導體封裝檢查
製藥業
研發解決方案

ACE