Contactless Test Station III (CTS III)非接觸式測試站 III
Accelerator of Excellence 卓越加速器
CTS III 是 NI迄今為止在 NFC 測試領域最大的投資。考慮到NFC測試市場的發展以及NI前幾代NFC測試設備的眾多用戶的反饋，該工具以前所未有的便利性展示一致性測試功能。更少的佈線、更少的設置時間，CTS III 的 NFC 自動化測試願景從未如此有機。
此外，新的 NFC信號生成功能可以在驗證階段將您的設計推向極限。噪聲、串擾、過沖和所有其他參數調整的模擬可直接從我們的 MPManager API 進行。
CTS III 結合以前從未在 NFC 測試中使用過的硬件資源。一流的轉換器、最強大的 FPGA……結合使用 NFC 信號發生器、DAQ 板、VNA 的非回歸測試台現在可以簡化為 CTS III 的部署。這些部分使用以幾 GB/s 範圍運行的通信總線組合在一起，以提高您自己的生產力。
與當前一代 NFC 測試平台相比，CTS III 的目標是幫助用戶徹底提高生產力。例如，我們的基準測試顯示，在 EMVCo L1 PCD 模擬測試活動中，測試時間縮短了 75% 至 80%。
根據 EMV 模擬測試平台和測試用例 v 3.0a 參考測試規範完成測試
根據 EMV 模擬測試平台和測試用例 v 3.0a 參考測試規範完成測試
用例 非接觸式測試站 III 通常用於以下環境： • 嵌入 NFC 技術的產品的驗證和驗證 • 根據國際標準（例如 EMVCo、NFC Forum、ISO 10373-6） -對嵌入 NFC 技術的產品進行預一致性和一致性測試 -支持NFC 的設備的互操作性測試 接受測試的設備可能是： • 智能手機 • 可穿戴設備（手錶、助聽器等） • 支付終端 • 汽車門把手 • 非接觸式智能卡 • 智能互聯設備 • M2M 設備
