Product: DECT Test Solution

產品簡介

RTX 2011

RTX2012 HS

Overview

　　RTX 2012 HS 的DECT/DECT6.0/CAT-iq射頻測試儀器平台可支援多種不同的射頻測試。因此它既可用於高產出的生產線上，亦可用適於在研發階段或維修使用。

手持話機測試(Portable Part Test)
　

　　RTX 2012 HS具備有基站(Base Station, Fixed Part,簡稱FP)的功能。在執行手持話機測試時，儀器本身會讓待測物(指手持話機DUT)做鎖定所要的虛擬信號，如此儀器與此手持話機裝置建立一個測試模式的連線以進行射頻(RF)特性的相關量測。

基站測試(Fixed Part Test)
　

　　RTX2012 HS亦配備著手持話機(Portable Part,簡稱PP)的功能。當基站測試(Fixed Part Test) 模式啟動時，手持話機會讓待測基站裝置鎖住以建立測試連線，進行射頻(RF)特性的相關量測。 
　　RTX2011利用以視窗為基本建構的MMI，可讓所有傳送與接收的量測結果會顯示在不同的視窗裡，並且以條狀圖及曲線圖區別成功與失敗(Pass/Fail)。
　　另外，儀器的操作可透過Windows® Base的使用者介面, 亦可在Window環境或是在測試環境以SCP格式的指令操作。此外連接到待測物(DUT)的射頻(RF)輸入/輸出(IN/OUT)連接端口部分，儀器設備的後端亦提供了其它連接端口。RTX2012 HS測試儀有基本版支援可做DECT/DECT6.0測試而進階版則可用於CAT-iq測試。基本版則可以更新至進階版實行對CAT-iq的測試。

1.        RTX2012 HS: RF Test Platform for DECT/DECT 6.0
            - Basic Version
2.        RTX2012 HS: RF Test Platform for DECT/DECT 6.0/CAT-iq
            - Advanced Version

Product Features

•       Accuracy and stability of RF carriers

•       Timing jitter: slot – slot on same channel.

•       Reference timing accuracy of a RFP

•       Measured of packet timing accuracy

•       Transmitted power (with an internal antenna) NTP

•       Transmitted power (with an external antenna) NTP

•       RF carrier modulation

•       Radio receiver sensitivity

•       Radio receiver reference bit error

Main measurements

•      NTP & Power template

•      Freq. Offset & Drift

•      S field modulation

•      B field modulation

•      BER & FER

•      Jitter

•      Timing accuracy (FP).

•      Packet delay (PP)

•      Slot type Dect 6.0 (P32Z & PP32Z)

•      Slot type  CAT-iq (P64Z & PP64Z)

•      Frequency range 1876.61 MHz to 1935.36 MHz

Main Application

• DECT/DECT6.0/CAT-iq Handset production test

• DECT/DECT6.0/CAT-iq Handset R & D testing

• Quality control test

• CAT-iq 2.0 Product Certification Test

 Resources

• RTX2012 HS - RF Test platform for DECT_DECT6-0_CAT-iq - Information Sheet v1